Struktura geometryczna powierzchni

SGP

Multisensorowy profilometr Altisurf 520 pozwala na stykowy i bezstykowy pomiar parametrów chropowatości oraz topografii powierzchni.

Parametry systemu:

  • zakres przesuwu w osi X – 200 mm,
  • zakres przesuwu w osi Y – 200 mm,
  • zakres przesuwu w osi Z – 200 mm,
  • rozdzielczość liniałów 0,1 μm.

Profilometr może pracować z dwoma rodzajami sensorów obejmującymi:

  • Sensor konfokalny CL1:
    zakres: 130 μm,
    rozdzielczość Z: 8 nm,
  • Sensor konfokalny CL2:
    zakres: 400 μm,
    rozdzielczość Z: 22 nm,
  • Sensor konfokalny CL3:
    zakres: 1400 μm,
    rozdzielczość Z: 60 nm,
  • Sensor interferometryczny o zakresie pionowym w przedziale od 0,5 do 90 μm oraz rozdzielczością Z wynoszącą 0,5 nm.

Oprócz tego posiadany profilometr jest wyposażony w:

  • głowicę stykową Microforce z wierzchołkiem z C-Si-W umożliwiającą pomiar przy bardzo małym nacisku,
  • głowicę pomiarową stykową indukcyjną o promieniu 2μm.

Stanowisko umożliwia pomiar i analizę wszystkich parametrów chropowatości oraz stereometrii powierzchni określonych m.in. normami: PN-EN ISO 4287, ISO 25178, ISO 13565-2 oraz ISO 13565-3.

Komentarze są wyłączone.